可視光領域から短波赤外領域(SWIR)までの広帯域対応の単焦点レンズSMA11F12発売発表

※400nm～1700nmを想定

近年、産業用途では、部品や製品の外観検査、電子部品の基板実装状態の検査等で、可視光領域をメインに高解像度マシンビジョン用カメラの利用が進んでいます。
一方、可視光では判別が難しかった製品や食品などの欠陥検査、異物の誤混入検査、さらには検査物質の特定などについては、短波赤外光領域(SWIR)に対応した産業用カメラの利用が進んでおり、最近ではこれら可視光領域から短波赤外光領域(SWIR)までの幅広い波長域の撮影が1台のカメラで可能となる製品も販売されております。
この幅広い波長域での撮影が可能となる産業用カメラについては、今まで複数台で行っていた撮影が1台のカメラで実現できることによる利便性の他、幅広い波長帯域の撮影が同時に行えることによる検査・検出精度の向上などに期待が寄せられています。
タムロンでは、これらの市場の期待に合わせ、レンズに於いても可視光領域から短波赤外光領域(SWIR)まで1本で対応することができる、1型5μピクセルピッチ　産業用単焦点レンズを発売致します。

可視光領域から短波赤外光領域(SWIR)までシームレスな撮影を可能とする高度な光学技術を採用し、異なる波長帯に対するピントずれの発生を極限まで抑制することにより、通常必要とされる波長帯ごとでのピント調整を行う事なく、幅広い波長帯域での高解像度撮影を可能としました。また、専用の特殊コートを新規に開発する事で、可視光領域から短波赤外光領域(SWIR)まで、広い波長帯域にわたってフラットで高い分光透過率を実現しています。

タムロンは、今後も産業用レンズ・マシンビジョン用単焦点レンズに対するお客様の様々なご要望に積極的に取り組み、画面全域にわたる高い光学性能と利便性を追求したレンズ開発を進めてまいります。

製品特長

1. １．可視光領域(Visible)から短波赤外光領域(SWIR)までのピントずれを低減

   
   

   400nm～1700nmの広い波長領域に渡り、異なる波長帯に対するピントずれを極限まで低減しています。
   可視光領域対応のマシンビジョン用カメラ、短波赤外光領域(SWIR)対応の産業用カメラ、両波長領域の撮影に対応した産業用カメラとの組み合わせにも最適です。




2. ２．業界トップクラスの分光透過率を実現

   
   

   タムロンオリジナルの特殊コートを新規に開発。可視光領域から短波赤外光領域(SWIR)^※まで約80%のフラットで高い分光透過率を実現しています。
   ※400-1700nm波長領域
   
   

   




3. ３．至近距離での撮影性能を追求

   
   

   使用頻度の高い至近撮影距離での良好な高コントラストを達成しています。
   センサー画素ピッチ5μmに対応しています。IMX990/IMX991対応^※
   ※ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社の製品

仕様